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著者名嶋岡 毅紘, 市川 公善, 渡邊 賢司, 小泉 聡, 寺地 徳之.
タイトルダイヤモンドダイオードの漏れ電流を誘起する欠陥検出
(Detection of defects inducing large leakage current of diamond diodes)
会議名第79回応用物理学会秋季学術講演会
発表年2018
言語Japanese

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