ダイヤモンドダイオードの漏れ電流を誘起する欠陥検出
(Detection of defects inducing large leakage current of diamond diodes)
第79回応用物理学会秋季学術講演会. 2018.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2019-05-28 03:00:45 +0900更新時刻: 2019-05-28 03:00:45 +0900