HOME > Presentation > Detail
ダイヤモンドダイオードの漏れ電流を誘起する欠陥検出
(Detection of defects inducing large leakage current of diamond diodes)
第79回応用物理学会秋季学術講演会. 2018.
NIMS author(s)
Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)
Created at: 2019-05-28 03:00:45 +0900Updated at: 2019-05-28 03:00:45 +0900