HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Electron-beam-induced current characterization of high-k dielectrics陳 君, 関口 隆史, 高瀬 雅美, 深田 直樹, 知京 豊裕, 蓮沼隆, 山部紀久夫, 佐藤基之, 奈良安雄. The 5th International Symposium on Advanced Science and Technolo. 2008.NIMS著者陳 君深田 直樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:53:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:21:22 +0900