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酸化物半導体薄膜表面の電荷蓄積層の評価と制御
(Study on surface electron accumulation layer of oxide semiconductor films)
日本セラミックス協会第32回エレクトロセラミックス研究討論会. 2012.
NIMS author(s)
Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)
Created at: 2017-02-14 11:23:30 +0900Updated at: 2017-07-10 21:28:23 +0900