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著者名長田 貴弘, ビエラワゲンオリバー, ホワイトマーク, ツアイミン, 山下 良之, 吉川 英樹, 大橋 直樹, 小林 啓介, 知京 豊裕, ジェームズスペック.
タイトル酸化物半導体薄膜表面の電荷蓄積層の評価と制御
(Study on surface electron accumulation layer of oxide semiconductor films)
会議名日本セラミックス協会第32回エレクトロセラミックス研究討論会
発表年2012
言語Japanese
外部での文献参照

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