HOME > 口頭発表 > 詳細口頭発表の表示著者名野田 武司, 白井 康裕, 宮崎 英樹, 柳田 真利, 宮野 健次郎, 韓 礼元. タイトルエリプソメトリーによるペロブスカイト薄膜の屈折率評価(Refractive index of perovskite thin films studied by ellipsometry)会議名応用物理学会秋季学術講演会発表年2016言語Japanese外部での文献参照
