HOME > 口頭発表 > 書誌詳細エリプソメトリーによるペロブスカイト薄膜の屈折率評価(Refractive index of perovskite thin films studied by ellipsometry)野田 武司, 白井 康裕, 宮崎 英樹, 柳田 真利, 宮野 健次郎, 韓 礼元. 応用物理学会秋季学術講演会. 2016年09月13日-2016年09月16日.NIMS著者野田 武司白井 康裕宮崎 英樹柳田 真利宮野 健次郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:59:54 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:27:00 +0900