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著者名野田 武司, 白井 康裕, 宮崎 英樹, 柳田 真利, 宮野 健次郎, 韓 礼元.
タイトルエリプソメトリーによるペロブスカイト薄膜の屈折率評価
(Refractive index of perovskite thin films studied by ellipsometry)
会議名応用物理学会秋季学術講演会
発表年2016
言語Japanese
外部での文献参照

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