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著者名CHEN, Jun, SEKIGUCHI, Takashi, FUKATA, Naoki, TAKASE, Masami, CHIKYOW, Toyohiro, Ryu Hasunuma, Kikuo Yamabe, Motoyuki Sato, Yasuo Nara, Keisaku Yamada.
タイトルTrap-Related Carrier Transports in p-FET with Poly-Si/HfSiON Gate Stack
会議名The 2008 International Conference on Solid State Devices and Mat
発表年2008
言語English
外部での文献参照

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