SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名CHEN, Jun, SEKIGUCHI, Takashi, FUKATA, Naoki, TAKASE, Masami, NEMOTO, Yoshihiro, Ryu Hasunuma, Kikuo Yamabe, Motoyuki Sato, Keisaku Yamada, CHIKYOW, Toyohiro.
タイトルEBIC and TEM Investigations of Current Leakage Sites in High-k Gate Stacks
会議名MANA International Symposium 2010
発表年2010
言語English
外部での文献参照

▲ページトップへ移動