HOME > 口頭発表 > 書誌詳細エッチピット形成によるダイオード漏れ電流欠陥の検出(Detection of leakage-current-inducing defects of diamond diodes)嶋岡 毅紘, 市川 公善, 渡邊 賢司, 小泉 聡, 寺地 徳之. 先進パワー半導体分科会 第5回講演会. 2018.NIMS著者市川 公善渡邊 賢司小泉 聡寺地 徳之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2019-03-04 10:08:56 +0900更新時刻: 2019-03-04 10:08:56 +0900