HOME > Presentation > Detailエッチピット形成によるダイオード漏れ電流欠陥の検出(Detection of leakage-current-inducing defects of diamond diodes)嶋岡 毅紘, 市川 公善, 渡邊 賢司, 小泉 聡, 寺地 徳之. 先進パワー半導体分科会 第5回講演会. 2018.NIMS author(s)ICHIKAWA, KimiyoshiWATANABE, KenjiKOIZUMI, SatoshiTERAJI, TokuyukiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at :2019-03-04 10:08:56 +0900 Updated at :2019-03-04 10:08:56 +0900