(Study on oxygen and metal migration at Pt or Cu/HfO2 interfaces under bias operation for oxide based ReRAM application)
The Seventh International Nanotechnology Conference on Communic. 2011年05月16日-2011年05月19日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:22:40 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:04:37 +0900