HOME > 口頭発表 > 書誌詳細カソードルミネッセンス法によるダイヤモンドのキラー欠陥評価(Detection of killer defects in diamond by cathodoluminescence)嶋岡 毅紘, 寺地 徳之, 渡邊 賢司, 小泉 聡. 第30回ダイヤモンドシンポジウム. 2016.NIMS著者寺地 徳之渡邊 賢司小泉 聡Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:04:37 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:32:27 +0900