HOME > Presentation > Detailカソードルミネッセンス法によるダイヤモンドのキラー欠陥評価(Detection of killer defects in diamond by cathodoluminescence)嶋岡 毅紘, 寺地 徳之, 渡邊 賢司, 小泉 聡. 第30回ダイヤモンドシンポジウム. 2016.NIMS author(s)TERAJI, TokuyukiWATANABE, KenjiKOIZUMI, SatoshiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:04:37 +0900Updated at: 2017-07-10 22:32:27 +0900