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著者名SHIMAOKA, Takehiro, ICHIKAWA, Kimiyoshi, WATANABE, Kenji, KOIZUMI, Satoshi, TERAJI, Tokuyuki.
タイトルDefect detection of diamond by etch pit formation and correlation analysis with electric properties
会議名Hasselt Diamond Workshop 2019 (SBDD XXIV)
発表年2019
言語English

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