HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Defect detection of diamond by etch pit formation and correlation analysis with electric propertiesSHIMAOKA, Takehiro, ICHIKAWA, Kimiyoshi, WATANABE, Kenji, KOIZUMI, Satoshi, TERAJI, Tokuyuki. Hasselt Diamond Workshop 2019 (SBDD XXIV). 2019年03月13日-2019年03月15日.NIMS著者渡邊 賢司小泉 聡寺地 徳之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2019-05-28 03:00:46 +0900 更新時刻: 2019-05-28 03:00:46 +0900