HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Defect evolution in AlN particle with Si-doping)ジョ ユージン, ディエール バンジャマン, 武田 隆史, 高橋 向星, 深田 直樹, 廣崎 尚登, 関口 隆史. BIAMS12. 2014.NIMS著者ジョ ユージン武田 隆史高橋 向星深田 直樹廣崎 尚登Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:42:25 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:35:02 +0900
