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著者名CHO, Yujin, DIERRE, Benjamin, TAKEDA, Takashi, TAKAHASHI, Kohsei, FUKATA, Naoki, HIROSAKI, Naoto, SEKIGUCHI, Takashi.
タイトルDefect evolution in AlN particle with Si-doping
会議名BIAMS12
発表年2014
言語English
外部での文献参照

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