HOME > Presentation > Detail(Defect evolution in AlN particle with Si-doping)ジョ ユージン, ディエール バンジャマン, 武田 隆史, 高橋 向星, 深田 直樹, 廣崎 尚登, 関口 隆史. BIAMS12. 2014.NIMS author(s)CHO, YujinTAKEDA, TakashiTAKAHASHI, KohseiFUKATA, NaokiHIROSAKI, NaotoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:42:25 +0900Updated at: 2018-06-05 13:35:02 +0900