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著者名NAGATA, Takahiro, YAMASHITA, Yoshiyuki, YOSHIKAWA, Hideki, KOBAYASHI, Keisuke, CHIKYOW, Toyohiro.
タイトルPhotoelectron Spectroscopic Study on High-k Dielectrics Based ReRAM Structure under Bias Operation
会議名2013 NIMS CONFERENCE
発表年2013
言語English
外部での文献参照

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