HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Photoelectron Spectroscopic Study on High-k Dielectrics Based ReRAM Structure under Bias Operation)長田 貴弘, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介, 知京 豊裕. 2013 NIMS CONFERENCE . 2013. 招待講演NIMS著者長田 貴弘山下 良之吉川 英樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:27:50 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:44:37 +0900