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Oxide interface characterization of n/p-GaN for power electronics

KOIDE, Yasuo, IROKAWA, Yoshihiro, NABATAME, Toshihide, MITSUISHI, Kazutaka.
66th Electronic Materials Conference (EMC) 2024. 2024年06月26日-2024年06月28日.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2024-08-08 03:13:48 +0900更新時刻: 2024-08-08 03:13:48 +0900

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