Lattice-plane orientation mapping of 2-inch homo-epitaxial GaN (0001) thin films by grazing incident x-ray diffraction topography
JSAP Autumn Meeting 2018. 2018年09月18日-2018年09月21日.
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作成時刻: 2018-09-08 16:16:25 +0900更新時刻: 2018-09-08 16:16:25 +0900