HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ルチル型TiO2界面層がHfO2/Ge MOSデバイスに与える影響(Effects of Rutile TiO2 Interlayer formation on HfO2/Ge MOS device)小橋 和義, 長田 貴弘, 生田目 俊秀, 山下 良之, 小椋厚志, 知京 豊裕. NIMS Conference 2013. 2013.NIMS著者長田 貴弘生田目 俊秀山下 良之知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:40:42 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:40:12 +0900