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著者名CHEN, Jun, YI, Wei, CHO, Yujin, NABATAME, Toshihide, SEKIGUCHI, Takashi, CHIKYOW, Toyohiro.
タイトルInvestigation of GaN MIS Interfaces by Electron-beam-induced Current
(EBIC法によってGaN MISデバイス界面の観察)
会議名The 17th conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics
発表年2017
言語English
外部での文献参照

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