HOME > 口頭発表 > 書誌詳細EBIC法によってGaN MISデバイス界面の観察(Investigation of GaN MIS Interfaces by Electron-beam-induced Current)陳 君, イ ウェイ, ジョ ユージン, 生田目 俊秀, 関口 隆史, 知京 豊裕. The 17th conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics . 2017.NIMS著者陳 君イ ウェイジョ ユージン生田目 俊秀知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-09-29 22:30:10 +0900 更新時刻 :2018-06-05 14:13:32 +0900