SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

EBIC法によってGaN MISデバイス界面の観察
(Investigation of GaN MIS Interfaces by Electron-beam-induced Current)

The 17th conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics . 2017.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-09-29 22:30:10 +0900 更新時刻 :2018-06-05 14:13:32 +0900

    ▲ページトップへ移動