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(Influence of Al2O3 gate dielectric on transistor properties for IGZO thin film transistor)

225th ECS Meeting. 2014年05月11日-2014年05月16日.

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    作成時刻: 2017-02-14 11:22:08 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:45:43 +0900

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