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ルチル型TiO2界面層がHfO2/GeMOS構造に与える影響
(Effects of Rutile TiO2 Interlayer on HfO2/Ge MOS Structure)

SSDM 2013. 2013.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-01-08 04:46:37 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:42:57 +0900

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