HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Pt/Al2O3/β-Ga2O3 MOSキャパシタの熱処理温度による電気特性の変化(Change of the electrical properties as a function of annealing temperarure for )廣瀨 雅史, 生田目 俊秀, 前田 瑛里香, 池田 直樹, 大井 暁彦, 色川 芳宏, 岩井 秀夫, 安福 秀幸, 川田 哲, 高橋誠, 伊藤和博, 小出 康夫, 清野肇. 第80回応用物理学会秋季学術講演. 2019.NIMS著者生田目 俊秀池田 直樹大井 暁彦色川 芳宏岩井 秀夫安福 秀幸川田 哲小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2019-10-03 03:00:17 +0900更新時刻: 2019-10-03 03:00:17 +0900