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著者名CHEN, Jun, SEKIGUCHI, Takashi, FUKATA, Naoki, Motoykuki Sato, TAKASE, Masami, Ryu Hasunuma, Kikuo Yamabe, Keisaku Yamada, CHIKYOW, Toyohiro.
タイトルCharacterization of High-k Gate Stacks by EBIC Technique
会議名International Nanotechnology Conference on Communication and Coo
発表年2011
言語English
外部での文献参照

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