HOME > 口頭発表 > 書誌詳細4H-SiC(0001)/SiO2 界面欠陥準位の第一原理解析:欠陥構造の重要性(First-principles analysis on defect levels of 4H-SiC(0001)/SiO2 interface: Importance of defect structures)金子 智昭, 山崎 隆浩, 田島 暢夫, 奈良 純, 清水達雄, 加藤弘一, 大野 隆央. 先進パワー半導体分科会 第2回講演会. 2015年11月09日-2015年11月10日.NIMS著者奈良 純Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:11:04 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:19:11 +0900