HOME > 口頭発表 > 書誌詳細エッチピット形成によるダイヤモンドデバイスのリーク欠陥の検出(Etch pit formation of diamond for detecting leakage current inducing defects)嶋岡毅紘, 小泉聡, 市川公善, 渡邊 賢司, 寺地徳之. 第32回ダイヤモンドシンポジウム. 2018.NIMS著者小泉 聡市川 公善渡邊 賢司寺地 徳之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2019-03-04 09:36:03 +0900更新時刻: 2019-03-04 09:36:03 +0900