HOME > Presentation > Detail
エッチピット形成によるダイヤモンドデバイスのリーク欠陥の検出
(Etch pit formation of diamond for detecting leakage current inducing defects)
第３２回ダイヤモンドシンポジウム. November 14, 2018-November 16, 2018.
NIMS author(s)
Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)
Created at: 2019-03-04 09:36:03 +0900 Updated at: 2019-03-04 09:36:03 +0900