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エッチピット形成によるダイヤモンドデバイスのリーク欠陥の検出
(Etch pit formation of diamond for detecting leakage current inducing defects)

第32回ダイヤモンドシンポジウム. 2018.

NIMS author(s)


Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


    Created at :2019-03-04 09:36:03 +0900 Updated at :2019-03-04 09:36:03 +0900

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