HOME > Presentation > Detailエッチピット形成によるダイヤモンドデバイスのリーク欠陥の検出(Etch pit formation of diamond for detecting leakage current inducing defects)嶋岡毅紘, 小泉聡, 市川公善, 渡邊 賢司, 寺地徳之. 第32回ダイヤモンドシンポジウム. 2018.NIMS author(s)KOIZUMI, SatoshiICHIKAWA, KimiyoshiWATANABE, KenjiTERAJI, TokuyukiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2019-03-04 09:36:03 +0900Updated at: 2019-03-04 09:36:03 +0900