HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Bias-application in Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy for Characterization of Advanced Materials)山下 良之, 長田 貴弘, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 小林 啓介. European Conference on Surface Science. 2011.NIMS著者山下 良之長田 貴弘吉川 英樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:41:19 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:10:31 +0900