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著者名YAMASHITA, Yoshiyuki, NAGATA, Takahiro, YOSHIKAWA, Hideki, CHIKYOW, Toyohiro, KOBAYASHI, Keisuke.
タイトルBias-application in Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy for Characterization of Advanced Materials
会議名European Conference on Surface Science
発表年2011
言語English
外部での文献参照

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