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Electron-beam-induced current study of breakdown behavior of high-k gate MOSFETs

SEKIGUCHI, Takashi, CHEN, Jun, TAKASE, Masami, FUKATA, Naoki, CHIKYOW, Toyohiro, Motoyuki Sato, Ryu Hasunuma, Kikuo Yamabe, Yasuo Nar.
SOLID STATE PHENOMENA 461-466. 2010.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2022-09-05 12:28:43 +0900 更新時刻 :2022-09-05 12:28:43 +0900

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