SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > その他の文献 > 書誌詳細

Electron-beam-induced current study of breakdown behavior of high-k gate MOSFETs

SEKIGUCHI, Takashi, CHEN, Jun, TAKASE, Masami, FUKATA, Naoki, CHIKYOW, Toyohiro, Motoyuki Sato, Ryu Hasunuma, Kikuo Yamabe, Yasuo Nar.
SOLID STATE PHENOMENA 461-466. 2010.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2022-09-05 12:28:43 +0900更新時刻: 2024-06-04 11:06:14 +0900

    ▲ページトップへ移動