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(Invited) Characteristics of GaN/High-k Capacitors Under Positive Bias Stress

ECS Transactions 112 [1] 109-117. 2023.

NIMS著者


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    作成時刻: 2023-10-19 03:13:20 +0900更新時刻: 2024-06-04 11:47:40 +0900

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