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| 著者名 | IROKAWA, Yoshihiro, MITSUISHI, Kazutaka, NABATAME, Toshihide, KIMOTO, Koji, KOIDE, Yasuo. |
|---|---|
| タイトル | Investigation of intermediate layers in oxides/GaN(0001) by electron microscopy |
| 掲載誌名 | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 57 [11] |
| 発表年 | 2018 |
| 言語 | English |
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