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著者名色川芳宏, 三石和貴, 生田目俊秀, 木本浩司, 小出康夫.
タイトルInvestigation of intermediate layers in oxides/GaN(0001) by electron microscopy
掲載誌名JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 57 11
発表年2018
言語English
ESIでのカテゴリ

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