HOME > 論文 > 詳細論文の表示著者名色川芳宏, 三石和貴, 生田目俊秀, 木本浩司, 小出康夫. タイトルInvestigation of intermediate layers in oxides/GaN(0001) by electron microscopy掲載誌名JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 57 11 発表年2018言語EnglishESIでのカテゴリ
