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Investigation of Al2O3/GaN interface properties by sub-bandgap photo-assisted capacitance-voltage technique

著者Yoshihiro Irokawa, Toshihide Nabatame, Kazuya Yuge, Akira Uedono, Akihiko Ohi, Naoki Ikeda, Yasuo Koide.
掲載誌名AIP Advances 9 [8] 085319
ISSN: 21583226
ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE
出版社AIP Publishing
発表年2019
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.5098489
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