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| 著者名 | Yoshihiro Irokawa, Toshihide Nabatame, Kazuya Yuge, Akira Uedono, Akihiko Ohi, Naoki Ikeda, Yasuo Koide. |
|---|---|
| タイトル | Investigation of Al2O3/GaN interface properties by sub-bandgap photo-assisted capacitance-voltage technique |
| 掲載誌名 | AIP Advances 9 [8] 085319 ISSN: 21583226 |
| 発表年 | 2019 |
| 言語 | English |
| ESIでのカテゴリ | |
| DOI | 10.1063/1.5098489 |
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