SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

Gate-Bias-Induced Threshold Voltage Shifts in GaN FATFETs

Open Access The Electrochemical Society (Publisher)

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2023-06-02 03:19:05 +0900更新時刻: 2024-06-02 09:42:23 +0900

    ▲ページトップへ移動