SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 会議録 > 書誌詳細

(Invited) Characteristics of GaN/High-k Capacitors Under Positive Bias Stress

ECS Transactions 109-117. 2023.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2023-10-20 03:13:02 +0900更新時刻: 2024-06-04 11:47:40 +0900

    ▲ページトップへ移動