HOME > 口頭発表 > 書誌詳細断面KPFMによる多重量子井戸太陽電池中のポテンシャル分布計測(Characterization of potential profile in multiple quantum well solar cell by using cross-sectional Kelvin probe force microscopy)石田 暢之, 野田 武司, 間野 高明, 佐久間 芳樹, 韓 礼元, 藤田 大介. Non-contact atomic force microscopy 2014. 2014年08月04日-2014年08月08日.NIMS著者石田 暢之野田 武司間野 高明佐久間 芳樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:37:17 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:53:55 +0900