Bias Dependent Potential of High-k thin films obtained from Operando Photoelectron Spectroscopy
The 31st European Conference on Surface Science. 2015年08月31日-2015年09月04日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 10:55:45 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:12:49 +0900