HOME > 口頭発表 > 詳細ナノ計測技術によるアルミナ系ReRAMデバイス開発(Development of alumina system ReRAM devices by mesuring technique at the nanometer scale)著者北澤 英明, 児子 精祐, 原田 善之, 李 政祐, 加藤 誠一, 中野 嘉博, 大吉 啓司, 籾田 浩義, 大野 隆央, 柳町 治, 井上 純一, 熊谷 和博, 関口 隆史, 木戸 義勇. 会議名第３回AIST-NIMS計測分析シンポジウム発表年2011言語Japanese
