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著者名北澤 英明, 児子 精祐, 原田 善之, 李 政祐, 加藤 誠一, 中野 嘉博, 大吉 啓司, 籾田 浩義, 大野 隆央, 柳町 治, 井上 純一, 熊谷 和博, 関口 隆史, 木戸 義勇.
タイトルナノ計測技術によるアルミナ系ReRAMデバイス開発
(Development of alumina system ReRAM devices by mesuring technique at the nanometer scale)
会議名第3回AIST-NIMS計測分析シンポジウム
発表年2011
言語Japanese
外部での文献参照

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