(Bias-voltage application in hard x-ray photoelectron spectroscopy for characterization of advanced materials)
the 37th International conference on Vacuum Ultraviolet and X-ra. 2010年07月11日-2010年07月16日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:34:00 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:51:28 +0900