HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Bias-voltage application in hard x-ray photoelectron spectroscopy for characterization of advanced materials)山下 良之, 上田 茂典, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 小林 啓介. the 37th International conference on Vacuum Ultraviolet and X-ra. 2010.NIMS著者山下 良之上田 茂典吉川 英樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:34:00 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:51:28 +0900