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著者名YAMASHITA, Yoshiyuki, Kenji Ohmori, UEDA, Shigenori, YOSHIKAWA, Hideki, CHIKYOW, Toyohiro, KOBAYASHI, Keisuke.
タイトルBias-application in hard x-ray photoelectron spectroscopy for characterization of advanced materials
会議名European Conference on Surface Science 26
発表年2009
言語English
外部での文献参照

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