HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Bias-application in hard x-ray photoelectron spectroscopy for characterization of advanced materials)山下 良之, 大毛利 健治, 上田 茂典, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 小林 啓介. European Conference on Surface Science 26. 2009.NIMS著者山下 良之上田 茂典吉川 英樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:16:43 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:34:02 +0900