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著者名YAMASHITA, Yoshiyuki, YOSHIKAWA, Hideki, CHIKYOW, Toyohiro, KOBAYASHI, Keisuke.
タイトルElectronic Structures under High-k Device Operation Investigated by Operando Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
会議名The 6th international conference on HAXPES
発表年2015
言語English
外部での文献参照

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