SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

Development of fluoride based high-k dielectric thin film for GaN MIS capacitor

2017 IWDTF. 2017.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-09-20 22:29:48 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:13:10 +0900

    ▲ページトップへ移動