バイアス電圧印加硬X線光電子分光法による界面電子状態の高感度観測
(Detection of low density of electronic states for oxide/Si interfaces by means of hard x-ray phoroelectron spectroscopy)
日本物理学会第64回年次大会. 2009.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 05:51:55 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:25:55 +0900