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著者名山下 良之, 大毛利健治, 上田 茂典, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 小林 啓介.
タイトルバイアス電圧印加硬X線光電子分光法による界面電子状態の高感度観測
(Detection of low density of electronic states for oxide/Si interfaces by means of hard x-ray phoroelectron spectroscopy)
会議名日本物理学会第64回年次大会
発表年2009
言語Japanese
外部での文献参照

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