HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si(111)-√7×√3-In 表面における静電遮蔽効果の STM 観測(STM observation of electrostatic screening effect on the Si(111)-√7×√3-In surface)吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018.NIMS著者吉澤 俊介鷺坂 恵介藤田 大介内橋 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-08-11 16:53:41 +0900更新時刻: 2018-08-11 16:53:41 +0900