HOME > 口頭発表 > 書誌詳細O2+およびAr+イオン注入後のSiナノワイヤ内部の結晶性回復過程(Re-crystallization process in SiNWs implanted with O2+ and Ar+ ions)横野茂輝, 瀬岡雅典, 齋藤直之, 石田慎哉, 深田 直樹, 陳 君, 関口 隆史, 菱田 俊一, 村上浩一. 春季第56回応用物理学会学術講演会. 2009.NIMS著者深田 直樹陳 君菱田 俊一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:44:53 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:28:55 +0900