HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電圧印加値を変化させた積層型セラミックコンデンサのヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察(Observation of Secondary Electron Imaging for Multilayer Ceramic Capacitors with Applied Several Voltages using Helium Ion Microscope)酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 小形曜一郎, 藤田 大介. 第64回応用物理学会春季学術講演会. 2017.NIMS著者石田 暢之永野 聖子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-26 21:19:30 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:33:59 +0900