Atom Probe and Cathodoluminescence study of Mg implanted layers in GaN
DRIP XVII (Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semicondu. 2017年10月08日-2017年10月12日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-07-08 23:16:58 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:10:37 +0900