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Atom Probe and Cathodoluminescence study of Mg implanted layers in GaN

関口 隆史, 木村 隆, 羅 顕佳, ジョ ユージン, 三石 和貴, 大久保 忠勝, 埋橋 淳, 宝野 和博, 江戸正晴, 高島信也.
DRIP XVII (Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semicondu. 2017年10月08日-2017年10月12日.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2017-07-08 23:16:58 +0900 更新時刻: 2018-06-05 14:10:37 +0900

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