Effect of Conduction Band Offset on Breakdown Voltage at SiO2/4H-SiC (000-1) studied by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
79th of JSAP Autumn Meeting 2018. 2018年09月18日-2018年09月21日.
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作成時刻: 2018-07-14 16:06:38 +0900更新時刻: 2018-07-14 16:06:38 +0900