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著者名YI, Wei, CHEN, Jun, Shun Ito, TANG, Daiming, CHO, Yujin, OSHIMA, Yuichi, SEKIGUCHI, Takashi.
タイトルCathodoluminescence study of stacking faults and dislocations in bulk GaN
会議名19th International Microscopy Congress
発表年2018
言語English
外部での文献参照

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