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Cathodoluminescence study of stacking faults and dislocations in bulk GaN

著者イ ウェイ, 陳 君, 伊藤俊, 湯 代明, ジョ ユージン, 大島 祐一, 関口 隆史.
会議名19th International Microscopy Congress
発表年2018
言語Japanese

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