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| 著者名 | YI, Wei, CHEN, Jun, Shun Ito, TANG, Daiming, CHO, Yujin, OSHIMA, Yuichi, SEKIGUCHI, Takashi. |
|---|---|
| タイトル | Cathodoluminescence study of stacking faults and dislocations in bulk GaN |
| 会議名 | 19th International Microscopy Congress |
| 発表年 | 2018 |
| 言語 | English |
| 外部での文献参照 |