HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Cathodoluminescence study of stacking faults and dislocations in bulk GaNイ ウェイ, 陳 君, 伊藤俊, 湯 代明, ジョ ユージン, 大島 祐一, 関口 隆史. 19th International Microscopy Congress. 2018年09月09日-2018年09月14日.NIMS著者イ ウェイ陳 君湯 代明ジョ ユージン大島 祐一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-08-30 16:22:43 +0900更新時刻: 2018-08-30 16:22:43 +0900