HOME > 口頭発表 > 詳細Cathodoluminescence study of stacking faults and dislocations in bulk GaN著者イ ウェイ, 陳 君, 伊藤俊, 湯 代明, ジョ ユージン, 大島 祐一, 関口 隆史. 会議名19th International Microscopy Congress発表年2018言語Japanese
